低頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀阻抗儀概述GDAT-S是具有多種功能和更高測試頻率的新型阻抗分析儀，體積小，緊湊便攜，便于上架使用。本系列儀器基本精度為0.05%，測試頻率87高1MHz及10mHz的分辨率，4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面，操作方便簡潔。集成了變壓器測試功能、平衡測試功能,提高了測試效率。儀器提供了豐富的接口，能滿足自動分選測試，數(shù)據(jù)傳輸和保存的各種要求。

絕緣油介質(zhì)與體積電阻率測試儀概述絕緣油介質(zhì)損耗及電阻率測試儀是依據(jù)GB/T5654-2007《液體絕緣材料 相對電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率的測量》設計制造的高精密一體化檢測儀器。

導熱硅脂工頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀直徑為10cm或更大些，需要測低損耗因數(shù)值時，很重要的一點是導線串聯(lián)電阻引入損耗要盡可能地小。 厚度的選取決定于試樣的制備方法和各點間厚度的變化，對1%的精確度來講，1.5mm的厚度就足夠了。

工頻介電常數(shù)測試儀電橋采用接觸電阻小，機械壽命長的十進開關(guān)，保證測量的穩(wěn)定性 儀器具有雙屏蔽，能有效防止外部電磁場的干擾。

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀 測量范圍及誤差 本電橋的環(huán)境溫度為20±5℃，相對濕度為30%-80%條件下，應滿足下列表中的技術(shù)指示要求。 在Cn=100 pF R4=3183.2（Ω）時 測量項目測量范圍測量誤差 電容量Cx40pF—20000pF±0.5% Cx±2pF 介損損耗tgδ0-1±1.5% tgδx±0.0001 在Cn=100 pF R4=318.3（Ω

諧振法測試儀性能特點： 平板電容器 極片尺寸：φ25.4mm\\φ50mm 極片間距可調(diào)范圍和分辨率：≥10mm，±0.01mm 園筒電容器 電容量線性：0.33pF / mm±0.05 pF 長度可調(diào)范圍和分辨率：≥0～20mm，±0.01mm 夾具插頭間距：25mm±1mm 夾角損耗角正切值：≤4×10－4（1MHz時）

工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀符合GB1409、GB5654 及GB/T1693, ASTM D150-1998（2004） 固體電絕緣材料的交流損耗特性及介電常 數(shù)的試驗方法其采用了西林電橋的經(jīng)典線路，內(nèi)附0-2500的數(shù)顯高壓電源及 100PF標準電容器，并可按用戶要求擴裝外接標準電容線路。

高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀GDAT儀器的技術(shù)指標 Q值測量范圍：2～1023 Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔； 電感測量范圍：14.5nH～8.14H 自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能 電容直接測量范圍：1～460pF 主電容調(diào)節(jié)范圍： 30～500pF

橡膠介電常數(shù)測試儀測量項目測量范圍測量誤差 電容量Cx40pF—20000pF±0.5% Cx±2pF 介損損耗tgδ0-1±1.5% tgδx±0.0001 在Cn=100 pF R4=318.3（Ω）時 測量項目測量范圍測量誤差 電容量Cx4pF—2000pF±0.5% Cx±3pF 介損損耗tgδ0-0.1±1.5% tgδx±0.0001